一、通用前置準備（兩者共用）

1. 確認測試環境：溫度 15-35℃、濕度 45%-75%，無明顯粉塵、氣流干擾，設備外殼處于正常安裝狀態（螺絲擰緊、蓋板閉合）。

2. 檢查試具合規性：IP3X 用 2.5mm 直形探棒（IEC 60529 試具 C），IP4X 用 1.0mm 鋼絲探棒（IEC 60529 試具 D），需驗證探棒直徑公差、長度（100mm）及檔球（35mm）無變形，推力校準合格。

3. 明確測試范圍：標記設備外殼所有縫隙、通風口、接口、按鍵周邊、散熱格柵等易侵入部位，確保無遺漏測試點。

4. 準備輔助工具：推力計（精度 ±0.1N）、計時器、手電筒（觀察內部是否觸及危險部件）、測試記錄表。

二、IP3X（2.5mm 固體防護）詳細測試流程

1. 試具定位：手持探棒手柄，將探棒垂直或沿外殼縫隙自然侵入角度，對準第一個測試點，確保探棒軸線與縫隙方向一致。

2. 施加推力：緩慢施加 3±0.3N 的軸向推力，保持推力穩定（用推力計實時監測），持續 10-30 秒。

3. 全面檢測：在保持推力的同時，緩慢轉動探棒（角度不超過 30°），模擬異物可能的侵入路徑；之后移動探棒至下一個測試點，重復步驟 1-2，覆蓋所有標記部位。

4. 關鍵觀察：用手電筒照射測試部位，觀察探棒是否穿透外殼；若設備透明或可拆解，需確認探棒未觸及內部帶電部件、轉動部件等危險結構。

5. 記錄數據：逐點記錄測試部位、推力值、是否穿透、是否觸及危險部件，若有異常需標注具體位置。

三、IP4X（1.0mm 固體防護）詳細測試流程

1. 試具定位：使用 1.0mm 鋼絲探棒，按 IP3X 的定位方式，對準測試點，因探棒更細，需重點關注微小縫隙（如按鍵間隙、接口防塵塞周邊）。

2. 施加推力：緩慢施加 1±0.1N 的軸向推力（避免探棒彎曲），保持 10-30 秒，全程用推力計控制力度，防止超力導致探棒變形。

3. 全面檢測：沿縫隙緩慢移動探棒，對狹窄縫隙可適當調整角度（不超過 45°），確保探棒充分接觸縫隙周邊；逐一覆蓋所有測試點，無遺漏。

4. 關鍵觀察：重點檢查 1.0mm 探棒是否嵌入縫隙或穿透外殼，同時確認內部無 1.0mm 及以上固體異物可能侵入的通道，且探棒未觸及內部危險部件。

5. 記錄數據：同 IP3X 記錄要求，額外注明微小縫隙的測試情況，如是否有探棒卡頓、縫隙是否存在尺寸超差等問題。

四、共同判定與收尾流程

1. 合格判定：兩者均需滿足 “試具未穿透外殼"“未觸及內部危險部件"“無明顯固體異物侵入通道"，即為對應等級合格；若任一測試點不符合，判定該等級不合格。

2. 設備復位：測試后檢查設備外殼無破損、縫隙無變形，清理表面殘留痕跡。

3. 報告輸出：整理測試數據，注明試具型號、環境參數、測試點數量、合格情況及異常描述，形成正式測試報告。