晶振頻率的測試方法

產品簡介：
一、CX-118A是高性價比的晶振測試系統，采用微處理器技術，實現了智能化測量。本系列儀器采用倒數計數技術實現等精度測量。它測量精度高，靈敏度高，速度快，閘門時間可選；具有頻率測量、周期測量、PPM測量、分檔測量、上下限測量、累加計數等功能；中心頻率（標稱頻率）F0、分檔值Pr1 ～Pr8 (ppm) 、上限頻率FU 、下限頻率FL可任意設定并能存儲。該機前置電路有低通濾波器、衰減器等。特別適合晶體行業、郵電、通信、廣播電視、學校、研究所及工礦企業的生產和科研之用。。 
具有PPM測量功能，預置頻率F0可任意設置。該功能特別適合于晶體振動器生產企業，測試結果顯示直觀。
主要功能：頻率測量，PPM測量，周期測量，數據累計 ，功能設定
 

二、主要技術指標：
頻率測量范圍： 0.1Hz — 100MHz
頻率測量靈敏度：30mv 
PPm測量：3KHz — 100MHz
PPm測量精度：≤1 PPm （1×10-6）
（可擴展0.1PPm ， 0.01 PPm）
中心頻率：0 Hz — 100 MHz任意設定
誤差設置范圍設定：± 1 — ± 999 PPm任意設定。
閘門設置：四檔 ，0.01s、 0.1s、1s三檔固定，
1檔閘門1ms — 10s可設，
每1mS為一階梯任意設定。
周期測量范圍：100 ms — 10 s
晶振穩定性：5 ×10-7 / 日
（可選 1 ×10-7/ 日，1 ×10-8 / 日）
時基頻率：OCXO--10MC

三、特點：
微機控制，可編程器件開發， 模塊化設計
100MHz同步等精度測量方式
SMT貼裝生產、工藝，全新小型化結構設計
9位LED顯示 
PPm提示功能 

四、可選配：
晶體測量匹配器：32.768KHz-20MHz 、20MHz-40MHz ,
40MHz-65MHz、65MHz-100MHz .

注：儀器配置
CX-117A晶體測試儀/PPm 1臺
連接電纜 2 根
電源線 1根
匹配器32.768KHz ～ 20MHz 1個
保險絲 2個
說明書 1份
合格證 1個

晶振頻率的測試方法

儀器面板功能介紹

CX-118A晶振測試儀前面板及功能介紹

一、面板示意圖：

                                   圖一

二、面板名稱及功能介紹

晶振頻率的測量

一、在儀器使用前，應檢查電源是否符合本儀器的電壓工作范圍，儀器使用三芯電源線，電源插座接地良好。經上述檢查后儀器即可通電。

本機使用電源為交流 220V±10%，按下前面板左下方的電源開關鍵，開機后儀器自檢，并顯示機型，接著儀器進行自校測量，自動測量機內的鐘頻信號。如下圖二所示：

                                圖 二

二、 頻率測量操作：

將晶振測試盒的四芯插頭連接到主機輸入A插座（9）如下圖三所示：

               圖三

2、 按閘門（6）鍵，置1s燈亮。此鍵與速度調節（10）鍵配合使用，備注：當速度調節旋鈕打開時，按閘門鍵不起作用。

1、把晶振插入晶振測試盒相應的位置，按“”或“Δ”鍵，點亮“FA”，此時顯示屏顯示的值為當前晶振頻率值，

三、晶振頻段的選擇與切換方法

1、選擇當前被測晶振的頻段，如果被測晶振的頻率低于10MHz必須按下低通鍵（8），如圖四，反之大于10MHz的晶振必須彈上來，如圖五所示

            圖 四                                   圖 五

2、 將晶振插入測試盒相對應的卡槽中，按下手柄鎖定被測晶振，此時測試盒電源指示亮，而且主機數據顯示窗口（10）顯示當前被測晶振的實際頻率。

注：1、閘門的選擇，依據顯示被測信號有效位數，來確定或測量的速度。

2、當所測量的頻率大于5V時，請按下衰減鍵。

四、測試盒的頻段的劃分

晶體測量匹配器：32.768KHz-20MHz (標配)

20MHz-40MHz （選配）

40MHz-65MHz （選配）

65MHz-100MHz（選配）

注：測試晶振時需選擇相應頻段的測試盒

五、晶振測試盒的開關選擇與使用方法

當選擇好相應頻段的測試盒后,需將測試盒的開關拔置相應的位置，32.768KHz-1MHz以內的晶振要將開關拔到左邊如圖六所示，1MHz以上晶振必須拔到右邊如圖七所示，